JP2555878B2 - Method of manufacturing film carrier tape - Google Patents
Method of manufacturing film carrier tapeInfo
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- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/50—Tape automated bonding [TAB] connectors, i.e. film carriers; Manufacturing methods related thereto
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はフィルムキャリヤーテープの製造方法に関す
る。The present invention relates to a method for producing a film carrier tape.
従来のフィルムキャリヤーテープの製造方法をフィル
ムキャリヤ方式を用いる半導体装置の製造方法と共に第
8図及び第9図に示すフィルムキャリヤーテープの平面
図及びC−C′線断面図を用いて説明する。A conventional method of manufacturing a film carrier tape will be described together with a method of manufacturing a semiconductor device using a film carrier method with reference to plan views and sectional views taken along the line CC 'of FIG. 8 and FIG.
まず搬送及び位置決め用のスプロケットホール1と半
導体チップ2が入る開孔部であるデバイスホール3をポ
リイミド等の絶縁フィルムに形成し、次でこの絶縁フィ
ルム上に銅等の金属箔を接着し、この金属箔をエッチン
グ等により一端に電気的選別のためのパッド4Aを有し他
端がデバイスホール内に延在するリード4を形成する。
このようにして形成されたフィルムキャリヤテープ6C
と、あらかじめ電極端子上に金属突起物であるバンプ7
を設けた半導体チップ2とを準備する。First, a sprocket hole 1 for transporting and positioning and a device hole 3 which is an opening for receiving the semiconductor chip 2 are formed in an insulating film such as polyimide, and then a metal foil such as copper is adhered onto the insulating film. A lead 4 having a pad 4A for electrical selection at one end and extending into the device hole at the other end is formed by etching the metal foil at one end.
Film carrier tape 6C thus formed
And the bumps 7 which are metal protrusions on the electrode terminals in advance.
The semiconductor chip 2 provided with is prepared.
次に、フィルムキャリヤテープ6Cのリード4と、半導
体チップ2のバンプ7とを、熱圧着法又は共晶法等によ
りインナーリードボンディングする。次で電気的選別用
のパッド4A上に接触子を接触させて電気選別や、バイア
ス試験を実施する。ここで、リード4の変形防止用とし
て、絶縁フィルム枠であるサスペンダー8をあらかじ
め、フィルムキャリヤテープに一体的に設けることや信
頼性向上及び機械的保護の為に第10図に示すように樹脂
9をポッティングして半導体チップ2上を樹脂封止する
場合もある。Next, the leads 4 of the film carrier tape 6C and the bumps 7 of the semiconductor chip 2 are subjected to inner lead bonding by a thermocompression bonding method or a eutectic method. Next, a contactor is brought into contact with the pad 4A for electrical selection to perform electrical selection and a bias test. Here, in order to prevent deformation of the leads 4, a suspender 8 which is an insulating film frame is previously provided integrally with the film carrier tape, and a resin 9 is used as shown in FIG. 10 for improving reliability and mechanical protection. In some cases, the semiconductor chip 2 is resin-sealed by potting.
上記のようなフィルムキャリヤ方式の半導体装置を実
装する場合は、リード4を所望の長さに切断し、次で第
11図に示すように、例えばプリント基板11上に固着剤10
により半導体チップ2を固着後、リード4をプリント基
板11上のボンディングパッド12にアウターリードボンデ
ィングして実施することができる。When mounting the film carrier type semiconductor device as described above, the lead 4 is cut into a desired length, and then the
As shown in FIG. 11, for example, the adhesive 10
Thus, after the semiconductor chip 2 is fixed, the leads 4 can be outer lead bonded to the bonding pads 12 on the printed circuit board 11.
これらのフィルムキャリヤ方式の半導体装置は、ボン
ディングがリード数と無関係に一度で可能である為、ス
ピードが速いこと及びフィルムキャリヤテープを使用す
る為作業の自動化が容易である等の利点を有している。These film carrier type semiconductor devices have advantages such as high speed because bonding can be performed at one time regardless of the number of leads, and automation of work is easy because a film carrier tape is used. There is.
上述した従来のフィルムキャリヤーにおいては、リー
ド変形防止用の絶縁フィルムの枠であるサスペンダーが
一般に設けられているが、フィルムキャリヤーテープを
製造する工程においてリードを形成する前の段階でサス
ペンダーが接着される為、リード形成時のエッチングや
メッキ等に使用される薬品等がサスペンダー上に残存
し、不純物イオンとなる。このため、サスペンダー上に
あるリード間の絶縁抵抗が劣化し、電気的リーク不良が
生じるという問題がある。In the conventional film carrier described above, a suspender, which is a frame of an insulating film for preventing lead deformation, is generally provided, but the suspender is bonded at a stage before forming the leads in the process of manufacturing the film carrier tape. Therefore, chemicals used for etching and plating during lead formation remain on the suspenders and become impurity ions. For this reason, there is a problem that the insulation resistance between the leads on the suspender deteriorates and an electrical leak defect occurs.
この問題は、半導体装置のリードが多数設けられるに
従って、リード幅、リード間ピッチが縮小する為より増
大されることになる。This problem becomes more serious as the number of leads of the semiconductor device is increased and the lead width and the lead pitch are reduced.
本発明のフィルムキャリヤーテープの製造方法は、ス
プロケットホールと半導体チップが入るデバイスホール
と該デバイスホール内に延在して形成され先端が半導体
チップに電気的に接続される複数のリードとを有するフ
ィルムと、前記デバイスホール内の前記リードに固着さ
れたリード変形防止用の絶縁フィルム枠とを有するフィ
ルムキャリヤーテープの製造方法において、前記複数の
リードをその先端部が接続された状態で形成してメッキ
したのち絶縁フィルム枠を固着し、次でリード先端の接
続部を除去して各リードを分離するものである。A method of manufacturing a film carrier tape according to the present invention is a film having a sprocket hole, a device hole into which a semiconductor chip is inserted, and a plurality of leads formed so as to extend into the device hole and whose tips are electrically connected to the semiconductor chip. And a method for manufacturing a film carrier tape having an insulating film frame for preventing lead deformation fixed to the lead in the device hole, wherein the plurality of leads are formed with their tip portions connected and plated. After that, the insulating film frame is fixed and then the connecting portion at the tip of the lead is removed to separate the leads.
次に、本発明について図面を参照して説明する。 Next, the present invention will be described with reference to the drawings.
第1図〜第5図は本発明の第1の実施例を説明するた
めの工程順に示した絶縁テープの平面図及び断面図であ
る。1 to 5 are a plan view and a cross-sectional view of an insulating tape shown in the order of steps for explaining a first embodiment of the present invention.
まず第1図及び第2図に示すように、スプロケットホ
ール1とデバイスホール3をプレス法等により形成した
ポリイミド等からなる絶縁フィルムに、接着剤13を介し
てCu等からなる金属箔14を接着する。First, as shown in FIGS. 1 and 2, a metal foil 14 made of Cu or the like is adhered to an insulating film made of polyimide or the like in which the sprocket hole 1 and the device hole 3 are formed by a pressing method or the like via an adhesive 13. To do.
次に第3図及び第4図に示すように、一般的なフォト
エッチング法により、金属箔を選択的にエッチングし、
一端に電気的選別用のパッド4Aを有し他端がデバイスホ
ール6内に延在して他のリードの先端部と接続するリー
ド4を形成する。リード4と一体的に形成されるこのリ
ード先端の接続部4Bはリード4の変形を防止するための
ものである。Next, as shown in FIGS. 3 and 4, the metal foil is selectively etched by a general photoetching method,
An electrical selection pad 4A is provided at one end and the other end extends into the device hole 6 to form a lead 4 connected to the tip of another lead. The connecting portion 4B at the tip of the lead formed integrally with the lead 4 is for preventing the deformation of the lead 4.
次に、このリード4にAu又はSn等のメッキを施す。 Next, the lead 4 is plated with Au, Sn, or the like.
次にポリイミド等からなる絶縁フィルムをプレス法等
により所望の形状に加工してサスペンダー8Aを形成し、
接着剤13を介してデバイスホール3内のリード4の裏面
の所定の位置に接着する。ここでサスペンダー8Aについ
ては形状の制限はないが、リード変形防止用である為半
導体チップを囲むように、かつリード上に存在するよう
に四角形のリング状のものが良い。Next, the insulating film made of polyimide or the like is processed into a desired shape by a pressing method or the like to form the suspenders 8A,
It is bonded to a predetermined position on the back surface of the lead 4 in the device hole 3 via the adhesive 13. Although the shape of the suspender 8A is not limited, it is preferable that the suspender 8A has a quadrangular ring shape so as to surround the semiconductor chip and exist on the lead because it is for preventing deformation of the lead.
最後に第5図に示すようにリード4の先端部の一体的
に形成された接続部4Bをプレス法等により除去して各リ
ード4の先端部を分離する。Finally, as shown in FIG. 5, the integrally formed connecting portion 4B of the tip portion of the lead 4 is removed by a pressing method or the like to separate the tip portion of each lead 4.
このように第1の実施例によれば、接続部4Bと一体的
にリード4を形成したのちメッキを施し、次でサスペン
ダー8Aを固着するため、従来のようにエッチングやメッ
キ等に用いられる薬品がサスペンダー上に残ることはな
くなる。例えば、従来TABテープ当り数十μgの汚染物
があったものが数μg以下となった。このため、サスペ
ンダー上のリード間の電気的リークは大幅に減少した。As described above, according to the first embodiment, the lead 4 is formed integrally with the connecting portion 4B, plating is performed, and then the suspender 8A is fixed. Will no longer remain on the suspenders. For example, there were several tens of micrograms of contaminants per TAB tape in the past, but the number became less than several micrograms. As a result, electrical leakage between the leads on the suspenders was greatly reduced.
サスペンダーの材質としては、温度変化におけるサス
ペンダーとリードが接合された半導体チップ間の膨張係
数の違いによる劣化を防止する為にFe−Ni合金等に絶縁
コーティングしたものなど、半導体チップの膨張係数に
近い絶縁材料を使用することも出来る。The material of the suspender is close to the expansion coefficient of the semiconductor chip, such as those with insulating coating on Fe-Ni alloy etc. to prevent deterioration due to the difference in expansion coefficient between the semiconductor chip to which the suspender and the lead are joined due to temperature change. Insulating materials can also be used.
第6図及び第7図は本発明の第2の実施例を説明する
ための絶縁テープの平面図及びC−C′線断面図であ
る。FIG. 6 and FIG. 7 are a plan view and a sectional view taken along the line CC ′ of the insulating tape for explaining the second embodiment of the present invention.
まず第1の実施例の場合と同様に絶縁フィルムにスプ
ロケットホール1及びデバイスホール3を設けたのち、
一端に電気的選別用のパッド4Aを有し他端が他のリード
の先端部と接続するリード4を形成する。First, as in the case of the first embodiment, the sprocket hole 1 and the device hole 3 are provided in the insulating film, and then,
A lead 4 having an electrical selection pad 4A at one end and having the other end connected to the tip of another lead is formed.
次に、リード4にメッキを施したのち、サスペンダー
8Bをデバイスホール3内のリード4の裏面に設ける。こ
こでサスペンダー8Bは印刷法、スタンプ法又はディスペ
ンス法等により、接着剤のみを用いてリング状に形成す
る。接着剤としてはシリコーン樹脂等のゴム状の接着剤
を使用することにより、温度変化におけるサスペンダー
とリードが接合された半導体チップ間の膨張係数の違い
による劣化を防止することが出来る利点がある。Next, after plating lead 4, suspender
8B is provided on the back surface of the lead 4 in the device hole 3. Here, the suspenders 8B are formed in a ring shape using only an adhesive by a printing method, a stamping method, a dispensing method, or the like. By using a rubber-like adhesive such as a silicone resin as the adhesive, there is an advantage that deterioration due to a difference in expansion coefficient between the semiconductor chip to which the suspender and the lead are bonded can be prevented due to temperature change.
本第2の実施例においても前述の第1の実施例と同様
に、リードのエッチングとメッキ以降にサスペンダーを
形成するため、リード間の絶縁抵抗の劣化は少くなる。Also in the second embodiment, similarly to the first embodiment described above, since the suspender is formed after the lead is etched and plated, the deterioration of the insulation resistance between the leads is reduced.
なお、上記各実施例においてはフィルムキャリヤーテ
ープを金属箔と絶縁フィルムとの2層で構成した場合に
ついて述べたが、金属箔のみで構成することもできる。
この場合は、第5図に示したようにパッド4Aを形成する
ことができないため、電気的選別を行う為には第11図に
示したようにプリント基板上のボンディングパッド12に
リード4を接続する必要がある。In each of the above embodiments, the film carrier tape is described as being composed of two layers of the metal foil and the insulating film, but it may be composed of only the metal foil.
In this case, since the pad 4A cannot be formed as shown in FIG. 5, the lead 4 is connected to the bonding pad 12 on the printed circuit board as shown in FIG. 11 in order to perform electrical selection. There is a need to.
以上説明したように本発明は、フィルムキャリヤーテ
ープのサスペンダーをフィルムキャリヤーテープ製造工
程で、リードのエッチングとメッキ以降に形成すること
により、サスペンダーの目的であるリード変形防止の効
果を維持した上で、従来実装後に問題となっていた、リ
ードのエッチングやメッキ工程等での汚染によるサスペ
ンダー上のリード間の電気的リースをなくすことができ
るという効果がある。As described above, the present invention maintains the effect of preventing lead deformation, which is the purpose of the suspender, by forming the suspender of the film carrier tape in the film carrier tape manufacturing process after etching and plating the leads. This has the effect of eliminating the electrical lease between the leads on the suspenders due to contamination during the lead etching or plating process, which has been a problem after conventional mounting.
第1図〜第5図は本発明の第1の実施例を説明するため
の工程順に示した絶縁フィルムの平面図及び断面図、第
6図及び第7図は本発明の第2の実施例を説明するため
のフィルムキャリヤーテープの平面図及びC−C′線断
面図、第8図〜第11図は従来のフィルムキャリヤーとフ
ィルムキャリヤー方式の半導体装置の製造方法を説明す
るための平面図及び断面図である。 1……スプロケットホール、2……半導体チップ、3…
…デバイスホール、4……リード、4A……パッド、4B…
…接続部、6A〜6C……フィルムキャリヤーテープ、7…
…バンプ、8,8A,8B……サスペンダー、9……樹脂、10
……固着剤、11……基板、12……ボンディングパッド、
13……接着剤、14……金属箔、15……絶縁フィルム。1 to 5 are plan and sectional views of an insulating film shown in the order of steps for explaining the first embodiment of the present invention, and FIGS. 6 and 7 are the second embodiment of the present invention. And FIG. 8 to FIG. 11 are plan views for explaining a conventional film carrier and a method for manufacturing a film carrier type semiconductor device. FIG. 1 ... Sprocket hole, 2 ... Semiconductor chip, 3 ...
… Device hole, 4… Lead, 4A… Pad, 4B…
… Connecting parts, 6A to 6C …… Film carrier tape, 7…
… Bumps, 8,8A, 8B …… Suspenders, 9 …… Resin, 10
...... Adhesive, 11 …… Substrate, 12 …… Bonding pad,
13 …… Adhesive, 14 …… Metal foil, 15 …… Insulating film.
Claims (1)
デバイスホールと該デバイスホール内に延在して形成さ
れ先端が半導体チップに電気的に接続される複数のリー
ドとを有するフィルムと、前記デバイスホール内の前記
リードに固着されたリード変形防止用の絶縁フィルム枠
とを有するフィルムキャリヤーテープの製造方法におい
て、前記複数のリードをその先端部が接続された状態で
形成してメッキしたのち絶縁フィルム枠を固着し、次で
リード先端の接続部を除去して各リードを分離すること
を特徴とするフィルムキャリヤーテープの製造方法。1. A film having a sprocket hole, a device hole into which a semiconductor chip is inserted, and a plurality of leads formed so as to extend into the device hole and whose ends are electrically connected to the semiconductor chip, and the inside of the device hole. In the method of manufacturing a film carrier tape having a lead deformation preventing insulating film frame fixed to the lead, the plurality of leads are formed in a state where their leading ends are connected and plated, and then the insulating film frame is formed. A method for producing a film carrier tape, which comprises fixing and then removing the connecting portion at the tip of the lead to separate each lead.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63222811A JP2555878B2 (en) | 1988-09-05 | 1988-09-05 | Method of manufacturing film carrier tape |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63222811A JP2555878B2 (en) | 1988-09-05 | 1988-09-05 | Method of manufacturing film carrier tape |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0269953A JPH0269953A (en) | 1990-03-08 |
JP2555878B2 true JP2555878B2 (en) | 1996-11-20 |
Family
ID=16788272
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63222811A Expired - Lifetime JP2555878B2 (en) | 1988-09-05 | 1988-09-05 | Method of manufacturing film carrier tape |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2555878B2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103348460A (en) * | 2011-01-31 | 2013-10-09 | Lg伊诺特有限公司 | Tap tape for electronic devices with reinforced lead crack and method of manufacturing the same |
-
1988
- 1988-09-05 JP JP63222811A patent/JP2555878B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103348460A (en) * | 2011-01-31 | 2013-10-09 | Lg伊诺特有限公司 | Tap tape for electronic devices with reinforced lead crack and method of manufacturing the same |
CN103348460B (en) * | 2011-01-31 | 2016-12-21 | Lg伊诺特有限公司 | There is the tap band for electronic installation of the lead-in wire crackle of enhancing |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0269953A (en) | 1990-03-08 |
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