JP2645880B2 - System clock duplication method - Google Patents
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Description
【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 二重化構成の装置において更にシステムクロックも二
重化するシステムクロック二重化方式に関し、 システムクロック障害によるシステムダウンを防止す
ると共にシステムクロック障害が正常なグループに影響
を与えないようにしてシステムの信頼性を向上させるこ
とを目的とし、 二つのグループによって二重化された装置において両
グループを同期化するシステムクロックを二重化するシ
ステムクロック二重化方式であって、各グループ毎にシ
ステムクロック発生回路を設け、かつ両回路のシステム
クロックを同期し、システムクロックに障害の発生した
障害グループのシステムクロック及び制御を止めると共
に、正常グループに障害発生を通知して正常グループに
よる制御に切換えさせ、障害グループは正常グループに
影響を与える箇所をすべてリセットし、正常グループは
障害グループにより影響を受ける箇所をすべてリセット
するように構成する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Summary] The present invention relates to a system clock duplication method in which a system clock is further duplicated in an apparatus having a duplicated configuration, which prevents a system down due to a system clock failure and does not affect a normal group. In order to improve the reliability of the system in this way, a system clock duplication method for synchronizing the two groups in a device that is duplicated by two groups, and generating a system clock for each group Provide a circuit, synchronize the system clocks of both circuits, stop the system clock and control of the failed group in which the system clock has failed, notify the normal group of the occurrence of the failure, and switch to the control by the normal group. group It resets all locations that affect the normal group, normal group constituting all the locations affected by failure group to reset.
本発明は、二重化構成の装置において、更にシステム
クロックも二重化するようにしたシステムクロック二重
化方式に関する。The present invention relates to a system clock duplex system in which a system clock is further duplicated in an apparatus having a duplex configuration.
情報処理装置においては、ハードウェアの技術進歩に
伴い、高密度及び小型化が近年増々進みつつある。これ
により、従来は一つのロッカーで構成されていた装置
が、一つのロッカーに従来の2装置分あるいはそれ以上
の装置分の機能が組み込まれるようになってきた。2. Description of the Related Art In information processing apparatuses, high-density and miniaturization have been increasing in recent years along with technological advances in hardware. As a result, an apparatus which has conventionally been constituted by one locker has been incorporated into one locker with functions of two or more conventional apparatuses.
一つのロッカに組み込まれた複数組の装置では、高信
頼性を要求される部分は二重化構成とし、二重化構成の
一方の系に障害が発生しても他方の系により処理を正常
に続行させて、障害発生によるシステムダウンを防止し
ている。In multiple sets of devices incorporated in one rocker, the parts that require high reliability have a redundant configuration, and even if a failure occurs in one of the redundant configurations, the other system can continue processing normally. The system is prevented from going down due to a failure.
しかしながら、このように複数分の装置の機能が集合
された一つのロッカ単位においても、システムクロック
は一つで構成され、各装置及び二重化された各構成部分
に共通のシステムクロックとして用いられている。これ
は、システムクロックは通常水晶発振器で構成されて一
般に信頼性が高いこと、二重化された二つの系間及び装
置間の同期が取りやすいこと、システムクロックの構成
が簡単化されること等によるものである。However, even in one rocker unit in which the functions of a plurality of devices are aggregated in this way, the system clock is configured as one and used as a system clock common to each device and each redundant component. . This is due to the fact that the system clock is usually composed of a crystal oscillator, which is generally highly reliable, easy to synchronize between two duplicated systems and devices, and that the configuration of the system clock is simplified. It is.
このことは一つの二重化された情報処理装置において
も同様で、一つのシステムクロックを二重化された二つ
の系の各システムクロックとして共用していた。This is the same in one duplicated information processing apparatus, and one system clock is shared as each system clock of two duplicated systems.
従来の二重化された情報処理装置又はそのまとまった
集合体では、システムクロックは一つで構成されてい
た。In a conventional duplex information processing apparatus or a group of the information processing apparatuses, a single system clock is used.
このため、前述のように、システムクロックの構成が
簡単、二重構造部分及び各装置間の同期が容易等の利点
があるが、反面、システムクロックに障害が発生したと
きは二重化された両系内の各装置が共にダウンし、シス
テムダウンを生じるという問題があった。特に多数の装
置の集合体であるシステムに対してシステムクロックが
一つであるとシステムの規模が増大したにもかかわらず
システムクロックの信頼性は向上されないために、シス
テムの信頼性が相対的に低下するという問題があった。For this reason, as described above, there are advantages such as a simple configuration of the system clock, a double structure portion and easy synchronization between the devices, but on the other hand, when a failure occurs in the system clock, the dual system is used. There is a problem in that each device in the system goes down, causing a system down. In particular, when the system clock is one for a system that is an aggregate of many devices, the reliability of the system clock is not improved even though the system scale is increased. There was a problem of lowering.
本発明は、二重化構成の装置において更にシステムク
ロックも二重化してシステムクロック障害によるシステ
ムダウンを防止するとともに、一方の系のシステムクロ
ック障害が他方の系の処理に影響を与えないようにして
システムの信頼性を向上させるようにしたシステムクロ
ック二重化方式を提供することを目的とする。The present invention also provides a system having a duplex configuration in which the system clock is further duplicated to prevent a system down due to a system clock failure, and to prevent a system clock failure in one system from affecting the processing in the other system. It is an object of the present invention to provide a system clock duplication method that improves reliability.
前述の課題を解決するために本発明が採用した手段
を、第1図を参照して説明する。第1図は、本発明の基
本構成をブロック図で示したものである。Means adopted by the present invention to solve the above-mentioned problem will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a block diagram showing the basic configuration of the present invention.
第1図において、10は全体の装置で、グループ10A及
び10Bの両系により二重化されている。この装置10は、
単一の装置又は複数装置の集合体を一つの装置と見たも
のである。In FIG. 1, reference numeral 10 denotes an entire apparatus, which is duplicated by both systems of groups 10A and 10B. This device 10
A single device or an aggregate of a plurality of devices is regarded as one device.
11及び12はグループ10A及び10Bのシステムクロック発
生回路で、同期関係にあるシステムクロックを発生す
る。Reference numerals 11 and 12 denote system clock generation circuits of groups 10A and 10B, which generate system clocks in a synchronous relationship.
13及び14はグループ10A及び10Bの論理回路で、両グル
ープの二重化構成によって装置10の制御を行う。Reference numerals 13 and 14 denote logic circuits of groups 10A and 10B, which control the device 10 by a duplex configuration of both groups.
15及び16はグループ10A及び10Bのクロック障害検出回
路で、その属するグループに発生したシステムクロック
障害を検出して自グループ及び他グループに通知する。Reference numerals 15 and 16 denote clock failure detection circuits of the groups 10A and 10B, which detect a system clock failure occurring in the group to which the group belongs and notify the own group and other groups.
17及び18はグループ10A及び10Bのクロックマスク回路
で、自グループのシステムクロック障害発生通知を受け
て自グループの論理回路に供給するシステムクロックを
停止する。Reference numerals 17 and 18 denote clock mask circuits of the groups 10A and 10B, which stop the system clock supplied to the logic circuits of the own group in response to the notification of the occurrence of the system clock failure of the own group.
本発明のシステムクロック二重化方式は、第1図の装
置10によって実施されるものであって、以下のように構
成される。The system clock duplication method of the present invention is implemented by the device 10 of FIG. 1 and is configured as follows.
すなわち、二つのグループ(10A,10B)によって二重
化された装置(10)において、両グループ(10A,10B)
を同期化するシステムクロックを二重化するシステムク
ロック二重化方式であって、 (a)各グループ(10A,10B)毎にシステムクロック発
生回路(13,14)を設け、かつ両システムクロック発生
回路(13,14)のシステムクロックを同期化し、 (b)一方のグループのシステムクロックに障害が検出
されたときには、障害の発生したグループのシステムク
ロック及び当該グループによる制御を止めるとともに、
正常な他のグループにシステムクロック障害発生を通知
して、正常な他のグループのみによる処理に切り換えさ
せ、 (c)障害の発生したグループは、正常な他のグループ
に影響を与える箇所をすべてリセットように構成され
る。That is, in a device (10) duplexed by two groups (10A, 10B), both groups (10A, 10B)
(A) a system clock generating circuit (13, 14) is provided for each group (10A, 10B), and both system clock generating circuits (13, 14) Synchronizing the system clocks of (b), when a failure is detected in one group of system clocks, stop the system clock of the failed group and control by the group;
The other normal groups are notified of the occurrence of the system clock failure, and the processing is switched to processing performed only by the other normal groups. (C) In the failed group, all the parts that affect the other normal groups are reset. It is configured as follows.
正常作動時は、グループ10A及び10Bのシステムクロッ
ク発生回路11及び12は、同期した状態でシステムクロッ
クをそれぞれ発生し、クロックマスク回路17及び18を通
して論理回路11及び12に供給する。During normal operation, the system clock generation circuits 11 and 12 of the groups 10A and 10B generate the system clocks in a synchronized state, respectively, and supply them to the logic circuits 11 and 12 through the clock mask circuits 17 and 18.
正常作動時は、クロック障害検出回路15及び16からは
クロック障害が検出されないので、クロックマスク回路
17及び18は、入力されたシステムクロックをマスクする
ことなく、そのまま論理回路13及び14に供給する。During normal operation, no clock failure is detected from the clock failure detection circuits 15 and 16, so the clock mask circuit
17 and 18 supply the input system clock to the logic circuits 13 and 14 without masking.
論理回路13及び14は二重化構成になっており、システ
ムクロック発生回路11及び12から供給される各システム
クロックにより同一タイミングで同じ動作をし、通常時
は予め決められた一方(例えばグループ10A側の論理回
路11)を使用して装置10の行う処理や制御が実行され
る。The logic circuits 13 and 14 have a duplicated configuration, perform the same operation at the same timing according to each system clock supplied from the system clock generation circuits 11 and 12, and normally perform a predetermined operation (for example, the group 10A side). The processing and control performed by the device 10 are executed using the logic circuit 11).
次にシステムクロック障害発生時の動作について説明
する。いま制御中のグループ10A側のシステムクロック
発生回路11に障害が発生すると、クロック障害検出回路
15は自グループ発生したシステムクロック障害を検出
し、論理回路13及び14並びにクロックマスク回路17に通
知して、装置10における制御をグループ10A側による制
御から論理回路12のみを使用するグループ10Bによる制
御に切り換えさせる。Next, an operation when a system clock failure occurs will be described. If a failure occurs in the system clock generation circuit 11 of the group 10A currently being controlled, a clock failure detection circuit
15 detects the system clock failure occurring in its own group, notifies the logic circuits 13 and 14 and the clock mask circuit 17 and controls the device 10 from the control by the group 10A to the control by the group 10B using only the logic circuit 12 Switch to.
クロックマスク回路17は、このクロック障害発生通知
を受けると、システムクロック発生回路13から障害のあ
るシステムクロックをマスクして論理回路13に行くのを
遮断する。これにより、システムクロック発生回路11が
障害システムクロックを出力し続けることによって引き
起される二次障害を回避することができる。When receiving the clock failure occurrence notification, the clock mask circuit 17 masks the failed system clock from the system clock generation circuit 13 and blocks the system clock from going to the logic circuit 13. As a result, it is possible to avoid a secondary failure caused by the system clock generation circuit 11 continuing to output the failed system clock.
論理回路13は、クロック障害検出回路15からのクロッ
ク障害検出通知を受けると、グループ10Bの論理回路14
に影響を与える箇所をすべてリセットする。When the logic circuit 13 receives the clock failure detection notification from the clock failure detection circuit 15, the logic circuit 13 of the group 10B
Reset all points that affect.
これにより、システムクロック発生回路11におけるク
ロック障害の発生及び停止により論理回路13がグループ
10Bの論理回路14に影響を与える部分、例えばインタフ
ェース部分に誤った信号がセット状態となる場合があっ
ても、これらがすべてリセットされるので、そのシステ
ムクロック障害発生及び停止による誤動作を防止するこ
とができる。As a result, the occurrence and stop of a clock failure in the system clock generation circuit 11
Even if an erroneous signal is set in a part that affects the 10B logic circuit 14, for example, an interface part, these signals are all reset, so that a malfunction due to the occurrence and stop of the system clock failure is prevented. Can be.
一方、グループ10Bの論理回路14は、グループ10Aのク
ロック障害検出回路15からのクロック障害検出通知を受
けると、障害の発生したグループ10Aの論理回路13によ
り影響を受ける箇所をすべてリセットする。On the other hand, upon receiving the clock failure detection notification from the clock failure detection circuit 15 of the group 10A, the logic circuit 14 of the group 10B resets all the parts affected by the logic circuit 13 of the failed group 10A.
これにより、システムクロック発生回路11における障
害クロックが、その発生から停止までの間に、その障害
クロックによりグループ10Bの論理回路14に誤りを発生
させる場合があっても、その誤りの部分はすべてリセッ
トされるので誤りない状態に戻すことができる。As a result, even if the faulty clock in the system clock generating circuit 11 may cause an error in the logic circuit 14 of the group 10B due to the faulty clock during the period from its generation to the stop, all of the errors are reset. So that it can be returned to an error-free state.
逆に、グループ10B側のシステムクロック発生回路12
に障害が発生すると、クロック障害検出回路16は自グル
ープに発生したシステムクロック障害を検出し、論理回
路14及び13並びにクロックマスク回路18に通知し、前述
の場合と同様にして装置10における制御を論理回路13の
みを使用するグループ10Aによる制御に切り換えさせ
る。Conversely, the system clock generator 12 on the group 10B side
When a failure occurs, the clock failure detection circuit 16 detects the system clock failure that has occurred in its own group, notifies the logic circuits 14 and 13 and the clock mask circuit 18 and controls the device 10 in the same manner as described above. The control is switched to the control by the group 10A using only the logic circuit 13.
以上のように二重化構成の装置において更にシステム
クロックも二重化するようにしたので、システムクロッ
ク障害による処理の中断,システムダウンを無くするこ
とができる。As described above, since the system clock is further duplicated in the apparatus having the duplicated configuration, interruption of processing due to a system clock failure and system down can be eliminated.
また二重化された一方のグループのシステムクロック
障害が他方のグループの処理に与える影響を除去するよ
うにしたので、一方のグループのシステムクロックに障
害が発生しても他方のグループにより装置の処理が正常
に行われ、前記(1)と相まって装置の信頼性を一層向
上させることができる。In addition, because the effect of the system clock failure of one of the duplicated groups on the processing of the other group is eliminated, even if a failure occurs in the system clock of one group, the processing of the device is normally performed by the other group. The reliability of the device can be further improved in combination with the above (1).
本発明の実施例を、第2図及び第3図を参照して説明
する。第2図は本発明の一実施例の実施装置の構成の説
明図、第3図は同実施装置の論理回路の説明図である。
以下、実施装置がデバイスの制御装置である場合を例に
とって、本発明の実施例について説明する。An embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 2 and FIG. FIG. 2 is an explanatory diagram of a configuration of an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is an explanatory diagram of a logic circuit of the embodiment.
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with an example in which the execution apparatus is a device control apparatus.
(A)実施装置の構成及び動作 第2図において、装置10,グループ10A及びグループ10
B,システムクロック発生回路11及び12、論理回路13及び
14,クロック障害発生回路15及び16,クロックマスク回路
17及び18については、第1図で説明したとおりである。(A) Configuration and operation of the implementing device In FIG. 2, the device 10, the group 10A and the group 10
B, system clock generation circuits 11 and 12, logic circuit 13 and
14, Clock failure generation circuits 15 and 16, Clock mask circuit
17 and 18 are as described in FIG.
20は装置10の上位装置、21は上位装置20と装置10間の
データ転送を扱うチャネル、30は装置10の配下にある磁
気ディスク等のデバイスのあるデバイス部である。Reference numeral 20 denotes a higher-level device of the device 10, reference numeral 21 denotes a channel for handling data transfer between the higher-level device 20 and the device 10, and reference numeral 30 denotes a device unit having a device such as a magnetic disk under the device 10.
システムクロック発生回路11において、111は基準発
振器で、水晶発振器のような高精度の発振器である。11
2は分周回路で、基準発振器11の発振周波数を所定シス
テムクロック周波数に分周する。113は遅延調整回路
で、グループ10A及び10Bのシステムクロック発生回路11
及び12の発生する両システムクロック間の遅延量を調整
する。114はパルス幅調整回路で、システムクロックの
パルス幅が所定パルス幅となるように調整する。In the system clock generating circuit 11, reference numeral 111 denotes a high-precision oscillator such as a crystal oscillator. 11
Reference numeral 2 denotes a frequency dividing circuit for dividing the oscillation frequency of the reference oscillator 11 to a predetermined system clock frequency. Reference numeral 113 denotes a delay adjustment circuit, which is a system clock generation circuit 11 for groups 10A and 10B.
And the delay amount between the two system clocks generated by the control unit 12 is adjusted. A pulse width adjustment circuit 114 adjusts the pulse width of the system clock so as to have a predetermined pulse width.
システムクロック発生回路12において、121はPLL回路
で、システムクロック発生回路11の分周回路112の発生
するクロックを入力し、これと周波数及び位相が共に同
期したシステムクロックを発生する。システムクロック
発生11の基準発振器111が障害により発振を停止する
と、PLL回路121は発振停止前の同期状態を保持して自走
する。したがって、このPLL回路121は、グループ10A側
のシステムクロックと同期したシステムクロックを発生
するグループ10B側の独立したシステムクロック共振器
を構成するものである。In the system clock generating circuit 12, a PLL circuit 121 receives a clock generated by the frequency dividing circuit 112 of the system clock generating circuit 11, and generates a system clock whose frequency and phase are synchronized with the clock. When the reference oscillator 111 of the system clock generator 11 stops oscillating due to a failure, the PLL circuit 121 keeps the synchronization state before the oscillation was stopped and runs on its own. Therefore, the PLL circuit 121 forms an independent system clock resonator on the group 10B side that generates a system clock synchronized with the system clock on the group 10A side.
122はパルス幅調整回路で、PLL回路121の発生したシ
ステムクロックが所定パルス幅となるように調整する。
パルス幅調整回路114及び122は、同じ構成のものであ
る。Reference numeral 122 denotes a pulse width adjustment circuit which adjusts the system clock generated by the PLL circuit 121 so as to have a predetermined pulse width.
The pulse width adjustment circuits 114 and 122 have the same configuration.
クロック障害検出回路15及び16において、151及び161
はPLL回路で、入力されるシステムクロックに同期した
システムクロックを出力する。152及び162は比較回路
で、PLL回路151の入力側及び出力側のシステムクロック
を例えば排他論理和によって比較してクロック障害の有
無を検出し、クロック障害検出時にエラー信号を発生す
る。システムクロックが停止したり周波数ずれが生じる
と排他論理和は「1」出力となるのでクロック障害が検
出され、エラー信号がオン高(H)レベルになる。クロ
ック障害が検出されないときは低(L)レベルになる。In the clock failure detection circuits 15 and 16, 151 and 161
Is a PLL circuit that outputs a system clock synchronized with the input system clock. Reference numerals 152 and 162 denote comparison circuits which compare the system clocks on the input and output sides of the PLL circuit 151 by, for example, exclusive OR to detect the presence or absence of a clock failure, and generate an error signal when the clock failure is detected. When the system clock stops or a frequency shift occurs, the exclusive OR outputs "1", so that a clock failure is detected and the error signal goes to the high (H) level. When a clock failure is not detected, the level becomes low (L).
クロックマスク回路17及び18において、171及び181は
ANDゲート、172a〜172m及び182a〜182mはクロックバッ
ファ、173及び183はNOT回路である。ANDゲート171及び1
81は、クロック障害検出回路15及び16からのエラー信号
がオフ(Lレベル)のとき開いて、システムクロック発
生回路13及び14からのシステムクロックを通す。In the clock mask circuits 17 and 18, 171 and 181
AND gates, 172a to 172m and 182a to 182m are clock buffers, and 173 and 183 are NOT circuits. AND gate 171 and 1
The reference numeral 81 opens when the error signals from the clock failure detection circuits 15 and 16 are off (L level) and passes the system clocks from the system clock generation circuits 13 and 14.
この構成において、正常時グループ10Aの基準発振器1
11の発振出力は分周回路112で所定システムクロック周
波数に分周された後、遅延調整回路113で遅延されパル
ス幅調整回路114で所定パルス幅に調整されてシステム
クロックとなって出力をされる。In this configuration, the reference oscillator 1 of the normal group 10A
The oscillation output of 11 is frequency-divided by a frequency dividing circuit 112 to a predetermined system clock frequency, then delayed by a delay adjusting circuit 113, adjusted to a predetermined pulse width by a pulse width adjusting circuit 114, and output as a system clock. .
一方、グループ10BのPLL回路121は、システムクロッ
ク発生回路11の分周回路112の発生するクロックを入力
してこれと周波数及び位相が共に同期したシステムクロ
ックを発生し、パルス幅調整回路122でそのパルス幅を
所定パルス幅に調整して、システムクロックを出力す
る。On the other hand, the PLL circuit 121 of the group 10B receives the clock generated by the frequency dividing circuit 112 of the system clock generating circuit 11, generates a system clock whose frequency and phase are synchronized with the clock, and generates the system clock by the pulse width adjusting circuit 122. The pulse width is adjusted to a predetermined pulse width, and a system clock is output.
グループ10A及び10Bのシステムクロック発生回路11及
び12の発生する両システムクロックの発生タイミングが
一致するように、システムクロック発生回路11のシステ
ムクロックの発生タイミングが遅延調整回路113により
調整される。したがって、正常時のグループ10A及び10B
の両システムロックは正しく同期関係にある。The generation timing of the system clock of the system clock generation circuit 11 is adjusted by the delay adjustment circuit 113 so that the generation timings of both system clocks generated by the system clock generation circuits 11 and 12 of the groups 10A and 10B match. Therefore, the normal groups 10A and 10B
The two system locks are correctly synchronized.
正常時は、システムクロック発生回路11及び12の発生
する両システムロックに異常は存在しないので、クロッ
ク障害検出回路15及び16の発生するエラー信号はオフ
(Lレベル)になる。このLレベルのエラー信号はNOT
回路173でHレベルに反転されるので、ANDゲート171及
び181は開き、システムクロックはクロックバッファ172
a〜172m及び182a〜182mを経由して、論理回路11及び12
内の必要な各箇所に供給される。In a normal state, since there is no abnormality in both system locks generated by the system clock generation circuits 11 and 12, the error signals generated by the clock failure detection circuits 15 and 16 are turned off (L level). This L level error signal is NOT
Since the signal is inverted to the H level in the circuit 173, the AND gates 171 and 181 are opened, and the system clock is supplied to the clock buffer 172.
Via a to 172m and 182a to 182m, logic circuits 11 and 12
Is supplied to each necessary part in the inside.
論理回路13及び14は二重化構成となっており、対応す
るシステムクロック発生回路11及び12からのシステムク
ロックを受けて同一タイミングで動作し、通常時は一方
の論理回路(以下、グループ10A側の論理回路13とす
る)を使用して制御が行われる。The logic circuits 13 and 14 have a duplex configuration, operate at the same timing in response to a system clock from the corresponding system clock generation circuits 11 and 12, and normally operate one of the logic circuits (hereinafter referred to as a logic on the group 10A side). The control is performed using a circuit 13).
論理回路13は、チャネル21を介して上位装置20からの
コマンドを受け、配下のデバイス30部内の所定デバイス
と上位装置20との間のデータ転送を制御する。The logic circuit 13 receives a command from the host device 20 via the channel 21 and controls data transfer between a predetermined device in the subordinate device 30 and the host device 20.
次に、グループ10A側の基準発振器111に障害が発生
(例えば停止)すると、クロック障害検出回路15のエラ
ー信号はオンとなり、ANDゲート171と論理回路13及び14
に送り、装置10における制御をグループ10A側による二
重構成制御から、論理回路14のみを使用するグループ10
B側の一重制御に切り換えさせる。Next, when a failure occurs (for example, stops) in the reference oscillator 111 on the group 10A side, the error signal of the clock failure detection circuit 15 turns on, and the AND gate 171 and the logic circuits 13 and 14 are turned on.
From the dual configuration control by the group 10A to the group 10 using only the logic circuit 14.
Switch to B side single control.
グループ10A側のADNゲート171は、エラー信号がオン
になることにより閉じ、障害のあるシステムクロックが
論理回路13に行くのを遮断する。これにより、システム
クロック発生回路13が障害システムクロックを出力し続
けることによって引き起される二次障害が防止される。The ADN gate 171 on the group 10A side closes when the error signal is turned on, and blocks the faulty system clock from going to the logic circuit 13. This prevents a secondary failure caused by the system clock generation circuit 13 continuing to output the failed system clock.
また論理回路13は、エラー信号がオンになると、グル
ープ10Bの論理回路14に影響を与える箇所をすべてリセ
ットする(詳細は次の(B)項で説明する)。Further, when the error signal is turned on, the logic circuit 13 resets all the portions that affect the logic circuits 14 of the group 10B (the details will be described in the next section (B)).
一方、グループ10B側のPLL回路121は、グループ10A側
のシステムクロックに障害が発生すると、障害発生前の
同期状態を保持して自走するので、グループ10B側は、
グループ10A側のシステムクロックに障害が発生しても
正常に動作する。On the other hand, when a failure occurs in the system clock of the group 10A, the PLL circuit 121 of the group 10B keeps the synchronization state before the failure and runs on its own.
It operates normally even if a failure occurs in the system clock of the group 10A.
グループ10B側の論理回路14は、グループ10Aからエラ
ー信号を受けると、障害の発生したグループ10Aの論理
回路13により影響を受ける箇所をすべてリセットする
(詳細は、次の(B)項で説明する)。When receiving the error signal from the group 10A, the logic circuit 14 on the group 10B side resets all the parts affected by the logic circuit 13 in the failed group 10A (the details will be described in the next section (B)). ).
以上のようにして、グループ10A側にシステムクロッ
ク障害が発生してもグループ10B側により処理を中断す
ることなく、かつ誤作動することなく装置10としての制
御動作が正常に続行される。As described above, even if a system clock failure occurs on the group 10A side, the control operation of the device 10 continues normally without interruption of processing by the group 10B side and without malfunction.
(B)論理回路の構成及び動作 第3図を参照して、グループ10A及び10Bの論理回路13
及び14の構成及び動作について説明する。(B) Configuration and Operation of Logic Circuit Referring to FIG. 3, logic circuits 13 of groups 10A and 10B
And 14 will be described.
論理回路13及び14において、131及び141チャネルアダ
プタ(以下CAで示す)で、論理回路13及び14と上位装置
20との間のデータ転送を制御する。In the logic circuits 13 and 14, 131 and 141 channel adapters (hereinafter referred to as CAs) are used to connect the logic circuits 13 and 14 to the host device.
Controls data transfer to and from 20.
132及び142はサービスアダプタ(以下SAで示す)で、
論理回路13及び14に対する各種制御信号(エラー信号も
含む)の授受を行う。132 and 142 are service adapters (hereinafter referred to as SA),
Transmission and reception of various control signals (including error signals) to the logic circuits 13 and 14 are performed.
133及び143はシェアード・ストレッジ(以下、SSで示
す)、グループ10A及び10B側より共通にアクセスされる
共用のメモリで、図示しない共通メモリを共用してい
る。Reference numerals 133 and 143 denote shared storage (hereinafter, referred to as SS) and shared memories commonly accessed by the groups 10A and 10B, and share a common memory (not shown).
134及び144はリソース・マネージャ(以下、RMで示
す)で、論理回路13及び14内のCA,SS等のリソース(資
源)を管理する。RM134及び144間はコピーバス135で接
続され、常に同一内容となるようにコピー処理が行われ
る。Reference numerals 134 and 144 denote resource managers (hereinafter referred to as RMs) for managing resources (resources) such as CA and SS in the logic circuits 13 and 14. The RMs 134 and 144 are connected by a copy bus 135, and a copy process is performed so that the contents are always the same.
SS133及び143並びにRM134及び144はグループ10A及び1
0Bより共通にアクセス可能な二重構成の共通モジュール
を構成し、共通バス136を介して論理回路13のCA131及び
SA132に接続され、共通バス146を介して論理回路14のCA
141及びSA142に接続される。二重化されたSS133,143及
びRM134,144は、正常時は一方がプライマリとして働き
他方はセコンダリとしてスタンバイ状態になっている
が、その内容は常にプライマリと同じである。SS133 and 143 and RM134 and 144 are groups 10A and 1
0B to form a common module of a dual configuration that can be accessed in common, and CA 131 and CA 131 of the logic circuit 13 via a common bus 136.
Connected to the SA 132 and connected to the CA of the logic circuit 14 through the common bus 146.
Connected to 141 and SA142. One of the duplicated SSs 133 and 143 and the RMs 134 and 144 normally operates as a primary and the other is in a standby state as a secondary, but the contents are always the same as the primary.
137及び147はデバイスアダプタ(以下DAで示す)で、
論理回路13及び14と配下のデイバス30部との間のデータ
転送を制御する。DA137は共通バス136に接続され、DA14
7は共通バス146に接続される。137 and 147 are device adapters (hereinafter indicated by DA),
Data transfer between the logic circuits 13 and 14 and the subordinate device 30 is controlled. DA137 is connected to common bus 136 and DA14
7 is connected to the common bus 146.
この構成において、グループ10A側のシステムクロッ
クに障害が発生すると、前述の(A)項で説明したよう
に、クロック障害検出回路15はエラー信号を発生して障
害システムクロックが論理回路13に供給されるのを停止
するとともに、エラー信号を論理回路13及び14に送り、
グループ10A側におけるシステムクロック障害発生を通
知する。In this configuration, when a failure occurs in the system clock on the group 10A side, the clock failure detection circuit 15 generates an error signal and the failed system clock is supplied to the logic circuit 13 as described in the above section (A). And stops sending error signals to the logic circuits 13 and 14.
The occurrence of a system clock failure on the group 10A side is notified.
論理回路13のSA132はクロック障害発生回路15からの
エラー信号を受けると、CA131及びDA137の以降のデータ
転送制御を中止させる。更に、SS133,143及びRM134,144
に対し、システムクロック障害が発生したグループ10A
側のポート上の信号をすべてリセットさせる。Upon receiving the error signal from the clock failure generating circuit 15, the SA 132 of the logic circuit 13 stops the subsequent data transfer control of the CA 131 and the DA 137. In addition, SS133,143 and RM134,144
Group 10A where the system clock failure occurred
Reset all signals on the side port.
グループ10A側のシステムクロックに障害が発生する
と、クロックマスク回路17により障害システムクロック
が論理回路13に行くのが遮断されるが、障害発生から遮
断までの1〜数サイクルの障害システムクロックにより
論理回路13が誤動作し、システムクロックが停止したた
めにその誤動作信号状態が保持される危険がある。例え
ば共通モジュールのSS143及びRM144を切換え後のグルー
プ10B側よりアクセス不可能になる危険がある。When a failure occurs in the system clock on the group 10A side, the clock mask circuit 17 blocks the failure system clock from going to the logic circuit 13. 13 malfunctions, and there is a danger that the malfunction signal state is maintained because the system clock stops. For example, there is a risk that the group 10B after switching the common modules SS143 and RM144 becomes inaccessible.
しかしながら、前述のようにグループ10A側のポート
上の信号をすべてリセットすることにより、この誤信号
状態は解除されて正常なグループ10B側よりSS143及びRM
144がアクセス可能になる。However, as described above, by resetting all the signals on the ports on the group 10A side, this erroneous signal state is released and SS143 and RM are returned from the normal group 10B side.
144 become accessible.
一方、グループ10B側の論理回路14のSA142は、グルー
プ10A側よりエラー信号を受けとると、CA141及びDA147
にデータ転送制御を引き受けさせる。更にSA142はグル
ープ10Aからのエラー信号を割込信号として現在実行中
の処理を中断し、診断プログラムを起動して共通モジュ
ール部分の診断を行う。On the other hand, when the SA 142 of the logic circuit 14 on the group 10B side receives an error signal from the group 10A side, the SA 142 and the DA 147
To take over data transfer control. Further, the SA 142 uses the error signal from the group 10A as an interrupt signal, interrupts the process currently being executed, starts a diagnostic program, and diagnoses the common module.
これにより、グループ10Aにおけるシステムクロック
の障害発生から停止までの間に受けた1〜数サイクルの
障害システムクロックにより誤動作を生じた場合であっ
ても、その誤動作によって発生するエラーを訂正するこ
とができる。システムクロック障害は装置10の処理中に
一度あるかないかであるのでこの割込みも処理中に一度
あるかないかであるから、処理に与える影響は殆んどな
いとみてよい。As a result, even if a malfunction occurs due to one to several cycles of the failure system clock received from the occurrence of the failure to the stop of the system clock in the group 10A, the error caused by the malfunction can be corrected. . Since the system clock failure may or may not occur once during the processing of the device 10, this interrupt may or may not occur once during the processing, so that it can be considered that there is almost no effect on the processing.
以上のようにして、正常なグループ10B側の論理回路1
4による制御に切換えられると、SS143及びRM144の一重
のみによるデータ転送が行われる。As described above, the logic circuit 1 on the normal group 10B side
When the control is switched to the control by 4, the data transfer is performed by only one of SS143 and RM144.
また、SA132はグループ10A側のシステムクロックに障
害が発生したことを表示又はセンス情報等によりオペレ
ータ側に通知する。オペレータは処理終了後等の都合の
よいタイミングで電源をオフにしてグループ10A側の障
害発生箇所を修理し、障害復旧後は元の二重構成に戻っ
てデータ転送制御を行わせる。In addition, the SA 132 notifies the operator of the occurrence of a failure in the system clock of the group 10A by display or sense information. The operator turns off the power at a convenient timing such as after the processing is completed, repairs the fault occurrence location on the group 10A side, and after the recovery from the fault, returns to the original duplex configuration to perform the data transfer control.
以上グループ10A側のシステムクロックに障害が発生
した場合の実施例について説明したが、グループ10B側
のシステムクロック発生回路12に障害が発生した場合
は、クロック障害検出回路16は、自グループに発生した
システムクロック障害を検出し、クロックマスク回路18
に通知すると共に論理回路及び13に通知する。これによ
り前述の実施例の場合と同様に、グループ10Bのシステ
ムクロックは止められると共に、装置10における制御を
論理回路13のみを使用するグループ10Aによる一重制御
に切り換える処理が行われる。In the above, the embodiment in the case where a failure has occurred in the system clock of the group 10A has been described.However, when the failure has occurred in the system clock generation circuit 12 of the group 10B, the clock failure detection circuit 16 has occurred in the own group. Detects a system clock failure and sets the clock mask circuit 18
And to the logic circuit and 13. Thus, as in the case of the above-described embodiment, the system clock of the group 10B is stopped, and the process of switching the control in the device 10 to the single control by the group 10A using only the logic circuit 13 is performed.
以上説明したように、本発明によれば次の諸効果が得
られる。As described above, according to the present invention, the following effects can be obtained.
(1)二重化構成の装置において更にシステムクロック
も二重化するようにしたので、システムクロック障害に
よる処理の中断,システムダウンを無くすることができ
る。(1) Since the system clock is further duplicated in the duplicated configuration device, interruption of processing due to a system clock failure and system down can be eliminated.
(2)二重化された一方のグループのシステムクロック
障害が他方のグループの処理に与える影響を除去するよ
うにしたので、一方のグループのシステムクロックに障
害が発生しても他方のグループにより装置の処理が正常
に行われ、前記(1)と相まって装置の信頼性を一層向
上させることができる。(2) Since the influence of the system clock failure of one of the duplicated groups on the processing of the other group is eliminated, even if a failure occurs in the system clock of one group, the processing of the device is performed by the other group. Is performed normally, and the reliability of the device can be further improved in combination with the above (1).
第1図は本発明の原理図、 第2図は本発明の一実施例の実施装置の構成の説明図、 第3図は同実施装置の論理回路の説明である。 第1図〜第3図において、 10……装置、10A,10B……グループ、11,12……システム
クロック発生回路、13,14……論理回路、15,16……クロ
ック障害検出回路、17,18……クロックマスク回路、20
……上位装置、21……チャネル、30……デバイス部。FIG. 1 is a diagram illustrating the principle of the present invention, FIG. 2 is an explanatory diagram of a configuration of an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is an explanation of a logic circuit of the embodiment. 1 to 3, 10... Device, 10 A, 10 B... Group, 11, 12... System clock generation circuit, 13, 14... Logic circuit, 15, 16. , 18 …… Clock mask circuit, 20
... Higher-level device, 21 ... channel, 30 ... device section.
Claims (2)
化された装置(10)において、両グループ(10A,10B)
を同期化するシステムクロックを二重化するシステムク
ロック二重化方式であって、 (a)各グループ(10A,10B)毎にシステムクロック発
生回路(13,14)を設け、かつ両システムクロック発生
回路(13,14)のシステムクロックを同期化し、 (b)一方のグループのシステムクロックに障害が検出
されたときは、障害の発生したグループのシステムクロ
ック及び当該グループによる制御を止めるとともに、正
常な他のグループにシステムクロック障害発生を通知し
て、正常な他のグループのみによる処理に切り換えさ
せ、 (c)障害の発生したグループは、正常な他のグループ
に影響を与える箇所をすべてリセットし、 (d)正常な他のグループは、前記システムクロックの
障害発生通知を受けて障害の発生したグループにより影
響を受ける箇所をすべてリセットする、 ことを特徴とするシステムクロック二重化方式。1. In a device (10) duplexed by two groups (10A, 10B), both groups (10A, 10B)
(A) a system clock generating circuit (13, 14) is provided for each group (10A, 10B), and both system clock generating circuits (13, 14) Synchronize the system clock of (b) When a failure is detected in one group of system clocks, stop the system clock of the group in which the failure occurred and control by the group, and change the system clock to another normal group. Notifying the occurrence of a system clock failure and switching to processing by only other normal groups, (c) resetting all the parts of the failed group that affect other normal groups, and (d) normalizing Other groups are affected by the failed group in response to the notification of the occurrence of the system clock failure. The all reset, system clock duplexing scheme, wherein a.
11)を設けて当該グループ(10A)のシステムクロック
を発生し、他のグループは、前記基準発振器(111)の
出力をPLL回路(121)で受けて一方のグループ(10A)
のシステムクロックに同期したシステムクロックを発生
することを特徴とする請求項1記載のシステムクロック
二重化方式。2. One group (10A) includes a reference oscillator (1A).
11) is provided to generate the system clock of the group (10A), and the other group receives the output of the reference oscillator (111) by the PLL circuit (121) and receives one group (10A).
2. The system clock duplication method according to claim 1, wherein a system clock synchronized with said system clock is generated.
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JP31382888A JP2645880B2 (en) | 1988-12-14 | 1988-12-14 | System clock duplication method |
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JPH075949A (en) * | 1993-06-18 | 1995-01-10 | Nec Corp | Method and device for duplex clock switching |
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